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당사의 원자현미경 (AFM) 최적의 성능을 얻으려면 Park Systems에서 견적을 요청하십시오. 아래 나열되지 않은 다른 제조업체의 Probe도 주문 가능하오니 담당자에게 문의 바랍니다.
- Nanosensors, Nanotools GmbH, Nanoworld AG, BudgetSensors, Olympus Corp., MikroMasch, Applied Nano Structures, Inc.
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Part Num. Model / Description 한국판매가
(단위:원)
부가세 별도
PPP-EFM_C (10ea.), PPP-EFM (10ea.)
610-1101-02
▪ Probe for DC-EFM/PFM/SCM
▪ Backside reflective coating (Cr-PtIr5)
▪ Conductive tip for electrical application, coated with Cr-PrIr5
▪ Typical tip length: 10 - 15 μm
▪ Typical tip radius: <25 nm
▪ k = ~2.8 N/m, f = ~75 kHz
▪ Mounted type on ceramic chip carrier
▪ Unmounted type required for clip type probehand
Mounted Type 720,000
610-0101
Unmounted Type 642,000
25Pt300B_C (10ea.), 25Pt300B (10ea.)
610-1115-02
▪ Contact cantilever for conductive AFM(CP-AFM)/SCM
▪ Solid platinum probe tip and cantilever
▪ Typical tip length: ~80 μm
▪ Typical tip radius: <20 nm
▪ k = ~18 N/m, f = ~20 kHz
▪ Mounted type on ceramic chip carrier
▪ Unmounted type required for clip type probehand
▪ Recommended for high voltage/current application above ±10 V or 1 µA
Mounted Type 1,401,000
610-0115
Unmounted Type 1,142,000
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