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IV 분광법

iv-spectroscopy-f1

캔틸레버를 나노미터 규모의 접점에서 측정하는 IV 분광법에서는 전류(I)를 시료에 가하는 팁 바이어스 전압(V)의 함수로 도식합니다. 시료 표면의 전기적 특성을 조사하기 위해 시료 이미지를 측정한 후 선택한 시료 영역에서 IV 분광을 측정합니다.

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